鹽霧測(cè)試儀是一種主要利用鹽霧試驗(yàn)設(shè)備所創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來(lái)考核產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性能的環(huán)境試驗(yàn)。大多數(shù)的腐蝕發(fā)生在大氣環(huán)境中,大氣中含有氧氣、溫度、濕度變化和污染物等腐蝕成分和腐蝕因素。
隨著鹽霧測(cè)試儀的用途越來(lái)越廣范,針對(duì)性超強(qiáng),對(duì)設(shè)備本身的要求也越來(lái)越高,為了更好的符合市場(chǎng)需求及提升品牌效益,產(chǎn)品均嚴(yán)格按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行,其參照標(biāo)準(zhǔn)如下;
GB/T 10125-1997 人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)
GB/T 10587-1989 鹽霧測(cè)試儀技術(shù)條件
GB/T 12085.4-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 鹽霧
GB/T 12967.3-1991 鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化 氧化膜的銅加速醋酸鹽霧試驗(yàn) (CASS試驗(yàn))
GB/T 1771-1991 色漆和清漆 耐中性鹽霧性能的測(cè)定
GB/T 10593.2-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法 鹽霧
GB/T 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka: 鹽霧試驗(yàn)方法
GB/T 5170.8-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
QB-T3826-1999輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學(xué)處理層的耐腐蝕試驗(yàn)方法中性鹽霧試驗(yàn)(NSS)法
QB-T3827-1999輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學(xué)處理層的耐腐蝕試驗(yàn)方法乙酸鹽霧試驗(yàn)(ASS)法
QB-T3828-1999輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學(xué)處理層的耐腐蝕試驗(yàn)方法銅鹽加速乙酸鹽霧試驗(yàn)(CASS)法